ADEV壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理
一、露點(diǎn)原理
露點(diǎn)的形成是基于Regnault原理。簡(jiǎn)而言之，當(dāng)一個(gè)光潔的金屬表面被放置在相對(duì)濕度低于飽和的空氣中并逐漸冷卻時(shí)，當(dāng)溫度降至某一特定值，金屬表面附近的相對(duì)濕度會(huì)達(dá)到飽和，這時(shí)，金屬表面上就會(huì)形成露。這表示在此溫度下，空氣中的水蒸氣已經(jīng)飽和，金屬表面上的水膜和空氣中的水分達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡。
二、鏡面式露點(diǎn)儀
根據(jù)上述原理，鏡面式露點(diǎn)儀是利用不同水分含量的氣體在不同溫度的鏡面上的結(jié)露現(xiàn)象來測(cè)量露點(diǎn)。這種儀器被認(rèn)為是測(cè)量值*接近真實(shí)露點(diǎn)的儀器。但是，它的維護(hù)成本高，不適合壓力波動(dòng)大或環(huán)境復(fù)雜的場(chǎng)所。ADEV壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理
三、壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理
在壓縮空氣系統(tǒng)中，目前廣泛使用的露點(diǎn)儀是基于水分對(duì)電容介電材料特性改變的原理工作的。具體地說，水分的增減會(huì)改變電容值，進(jìn)而改變由電容和電感組成的振蕩電路的振蕩頻率。振蕩頻率的高低直接反映了壓縮空氣中的水分含量。
此外，還有一種露點(diǎn)儀是利用傳感器測(cè)量進(jìn)入微孔的水分子數(shù)量。進(jìn)入微孔的水分子數(shù)量與傳感器周圍的氣體下的水分壓成正比，而水分壓則取決于氣體中的水分含量和氣體的總壓。
四、介電材料的選擇ADEV壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理
根據(jù)所采用的介電材料的不同，這種露點(diǎn)儀主要分為氧化鋁型和高分子聚合物薄膜型兩類。氧化鋁型可以測(cè)量到-100°C的壓力露點(diǎn)，而薄膜型可以測(cè)量到-60°C。但在-70℃到-80℃的范圍內(nèi)，薄膜型的測(cè)量偏差會(huì)稍大一些。
五、壓縮空氣的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
ISO8573.1是定義壓縮空氣質(zhì)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。它規(guī)定了三類空氣質(zhì)量的限值，即殘余顆粒物的大顆粒尺寸、允許的高露點(diǎn)溫度以及大殘余油含量。每個(gè)類別都有一個(gè)從1到6的質(zhì)量等級(jí)編號(hào)，這些編號(hào)都是基于特定的參考值。例如，一個(gè)被評(píng)為1.1.1的系統(tǒng)，根據(jù)ISO8573.1標(biāo)準(zhǔn)，它能提供露點(diǎn)不高于-70°C的空氣，所有殘余顆粒物尺寸不超過0.1μm，大油含量為0.01 mg/m3。除了ISO標(biāo)準(zhǔn)，還有其他如ANSI/ISA-7.0.01-1996的壓縮空氣質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
結(jié)論：ADEV壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理
ADEV壓縮空氣露點(diǎn)儀的工作原理是基于深入研究和科學(xué)原理的，它為我們提供了一個(gè)有效、準(zhǔn)確的方法來測(cè)量壓縮空氣中的露點(diǎn)，確保壓縮空氣的質(zhì)量和應(yīng)用效果。
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